詳細(xì)摘要： HAST可靠性試驗(yàn)CAF測試環(huán)境箱，面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： HAST可靠性試驗(yàn)CAF測試環(huán)境箱，面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： zonglen絕緣電阻劣化離子遷移CAF評估系統(tǒng) ，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間的測試...
產(chǎn)品型號：EM-HAST所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 桌上型高低溫試驗(yàn)箱zonglen，高溫試驗(yàn)箱，滿足各種產(chǎn)品、零部件及材料在高溫恒溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)間適應(yīng)性試驗(yàn)要求。 箱體外膽采用優(yōu)質(zhì)鋼板噴塑處理，箱體...
產(chǎn)品型號：GT/S-06所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： zonglen高溫試驗(yàn)箱ThermoChamber ，高溫試驗(yàn)箱，滿足各種產(chǎn)品、零部件及材料在高溫恒溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)間適應(yīng)性試驗(yàn)要求。 箱體外膽采用優(yōu)...
產(chǎn)品型號：GW-10所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： zonglen桌上型高低溫試驗(yàn)箱，高溫試驗(yàn)箱，滿足各種產(chǎn)品、零部件及材料在高溫恒溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)間適應(yīng)性試驗(yàn)要求。 箱體外膽采用優(yōu)質(zhì)鋼板噴塑處理，箱體...
產(chǎn)品型號：GT/S-06所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： zonglen HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST CHAMBER高加速應(yīng)力測試系統(tǒng)HAST-400，高加速應(yīng)力測試系統(tǒng)HAST-400，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高...
產(chǎn)品型號：HAST-400所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓，高加速應(yīng)力測試系統(tǒng)HAST-400，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和...
產(chǎn)品型號：HAST-400所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修，是一種環(huán)境應(yīng)力測試設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在長時(shí)間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動和電壓等，...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： Hirayama HAST高加速老化試驗(yàn)箱維修，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測試系統(tǒng)HAST-400，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加...
產(chǎn)品型號：HAST-400所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片老化系統(tǒng)測試Small Burn-in Tester，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶在...
產(chǎn)品型號：ZONGLEN所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，高加速應(yīng)力測試系統(tǒng)HAST-400，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱...
產(chǎn)品型號：HAST-400所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速應(yīng)力測試CAF測試，面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評估...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓老化 試驗(yàn)箱，高加速應(yīng)力測試系統(tǒng)HAST-400，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕...
產(chǎn)品型號：HAST-400所在地：成都市更新時(shí)間：2025-01-07 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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